Hioki 3227 MILLIOHM HI TESTER (N74) => 33만원 - 300mΩ(최소분해가능 10μΩ)∼300 kΩ 레인지 - 4·16·90회/s의 샘플링 속도전환 - 15종류의 콤퍼레이터 조건을 메모리 - 재질·온도를 묻지 않는 온도보정 기능(저항값 으로 부터 온도환산도 가능) - 옵션의 9203프린터로 통계처리가 가능 - 측정 레인지: 300m/3/30/300/3k/30k/300kΩ, 최소 분해가능;10μΩ - 표시(Display): 「30000」카운트, 형광표시관(FAST때는 3 1/2 자리수) - 기본확실도 측정: ±0.1% rdg.±8dgt.(300mΩ), ±0.08% rdg.±3dgt.(3∼3kΩ), ±0.1% rdg.±3dgt.(30k/300kΩ) - 측정전류: 100mA∼10μA - 측정인가 전압: 30mV∼3V - 개방단자 전압: 7V max. - 최대 허용인가전압: AC rms/DC 100V(퓨즈에 의한 보호) - 온도보정 기능: 온도 계수·환산, 온도설정으로 임의 재질·온도값으로 환산 (보정온도 범위 0∼40℃) - 온도측정: 0.00℃∼40.00℃(±0.5℃) - 콤퍼레이터: 상한·하한값설정, 기준치와 그 편차 설정(REF%) 최대 15종류까지의 콤퍼레이터 조건을 메모리 - 외부 입출력: 입력;레인지 선택, 콤퍼레이터 테이블 선택, 방아쇠, 콤퍼레이터 출력, 0ADJ, 프린트/ TTL 출력 ;BCD(훌패러렐), 측정 종료, 콤퍼레이터 판정 결과, NG신호/오픈 수집가 구성품 : 본체, 문의 : 010-2274-9619
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